La microscopie électronique à balayage (MEB ou SEM pour Scanning Electron Microscopy en anglais) est une technique de microscopie basée sur le principe des des intéractions électrons-matière. Un faisceau d'éléctrons balaie la surface de l'échantillon à analyser qui, en réponse, réémet certaines particules. Différents détecteurs permettent d'analyser ces particules et de reconstruire une image de la surface. Aujourd'hui, un grand nombre de constructeurs proposent des microscopes à balayage de série équipés de détecteurs d'électrons secondaires et dont la résolution se situe entre 1nm à 20 nm. Stephan Borensztajn, présente le fonctionnement de ce microscope, analyse des images en électrons secondaires, en éléctrons rétrodiffusés ainsi qu'une analyse en selection d'energie ou EDS.
La vidéo ne dure que 15 minutes, mais elle est présentée deux fois de suite!
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